Percorrendo por Assunto CIRCUITOS INTEGRADOS

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Data de publicaçãoTítuloAutor(es)
2016Avaliação de defeitos resistivos de manufatura em SRAMs frente ao fenômeno de NBTIMartins, Marco Túlio Gonçalves
2014Desenvolvimento de um I-IP para o monitoramento da atividade do sistema operacional em processadores multinúcleosOliveira, Chrístofer Caetano de
2012Desenvolvimento de um sensor "On-Chip" para monitoramento do envelhecimento de SRAMsCeratti, Arthur Denicol
2017Development of a test methodology for FinFET-Based SRAMsMedeiros, Guilherme Cardoso
2009Escalonador em hardware para deteção de falhas em sistemas embarcados de tempo realTarrillo Olano, Jimmy Fernando
2015Metodologia baseada em hardware para o desenvolvimento de circuitos integrados tolerantes ao fenômeno de NBTICopetti, Thiago Santos
2007Núcleo IP de uma bridge ethernet baseado em lógica reconfigurável e processador SoftCoreDuarte, Fabio Sidiomar Zamperetti
2008Núcleos IP corretores de erros para proteção de memória em SoCGama, Márcio Almeida
2011Plataforma para injeção de falhas em System-on-Chip (SOC)Dias, Marcelo Mallmann
2010Plataforma para injeção de ruído eletromagnético conduzido em circuitos integradosPrestes, Darcio Pinto
2006Soluções híbridas de hardware/software para a detecção de erros em systems-on-chip (SoC) de tempo realPiccoli, Leonardo Bisch
2010Teste de SRAMs baseado na integração de March teste e sensores de corrente on-chipChipana Quispe, Raúl Darío
2018Testing the blade resilient asynchronous template: a structural approachJuracy, Leonardo Rezende
2011Técnica de detecção de falhas de escalonamento de tarefas em sistemas embarcados baseados em sistemas operacionais de tempo realSilva, Dhiego Sant'Anna da
2008Validação de uma técnica para o aumento da robustez de soc’s a flutuações de tensão no barramento de alimentaçãoMoraes, Marlon Leandro
2009Verificação e prototipação de redes intrachip: o estudo de caso Hermes-TBBezerra, Jeronimo Cunha