Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/12195
Tipo: conferenceObject
Título: Gate-level modelling of NBTI-induced delays under process variations
Autor(es): COPETTI, THIAGO
MEDEIROS, GUILHERME
POEHLS, LETICIA BOLZANI
Fabian Luis Vargas
KOSTIN, SERGEI
JENIHHIN, MAKSIM
RAIK, JAAN
UBAR, RAIMUND
En: 2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), Brasil.
Fecha de Publicación: 2016
URI: http://hdl.handle.net/10923/12195
DOI: DOI:10.1109/latw.2016.7483343
ISBN: 9781509013319
Aparece en las colecciones:Apresentação em Evento

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