Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/10923/13980
Tipo: conferenceObject
Título: An accurate Single Event Effect digital design flow for reliable system level design
Autor(es): PONTES, J.
Ney Laert Vilar Calazans
Pascal Vivet
En: 2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Alemanha.
Fecha de Publicación: 2012
Palabras clave: Single Event Upset
SEU
radiation hardening
soft errors
URI: http://hdl.handle.net/10923/13980
DOI: DOI:10.1109/DATE.2012.6176466
ISBN: 9781457721458
Aparece en las colecciones:Apresentação em Evento

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