1. Repositório PUCRS
  2. PUBLICAÇÕES CIENTÍFICAS
  3. Apresentação em Evento
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/13980
Tipo: conferenceObject
Título: An accurate Single Event Effect digital design flow for reliable system level design
Autor(es): PONTES, J.
Ney Laert Vilar Calazans
Pascal Vivet
In: 2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), Alemanha.
Data de Publicação: 2012
Palavras-chave: Single Event Upset
SEU
radiation hardening
soft errors
URI: http://hdl.handle.net/10923/13980
DOI: DOI:10.1109/DATE.2012.6176466
ISBN: 9781457721458
Aparece nas Coleções:Apresentação em Evento

Arquivos neste item:
Arquivo Descrição TamanhoFormato 
An_accurate_Single_Event_Effect_digital_design_flow_for_reliable_system_level_design.pdf431,72 kBAdobe PDFAbrir
Exibir
Ver em formato completo Ver estatísticas Busque outras versões desse texto via SFX


Todos os itens no Repositório da PUCRS estão protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, e estão licenciados com uma Licença Creative Commons - Atribuição-NãoComercial 4.0 Internacional. Saiba mais.