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dc.contributor.advisorVargas, Fabian Luisen_US
dc.contributor.authorGama, Márcio Almeidaen_US
dc.date.accessioned2013-08-07T18:53:02Z-
dc.date.available2013-08-07T18:53:02Z-
dc.date.issued2008pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10923/3145-
dc.description.abstractThe constant technology process improvement has remarkably reduced the transistor geometry and power supply levels in the integrated circuits. In high-density circuits operating at low voltage, the memory cells are able to store information with less capacitance, which means that less charge or current is required to store the same data. During the storage period, the data involved are likely to suffer influence of media, such as electromagnetic interference, radiation or even failures of the hardware involved. The fault is characterized as a reversal of one or more bits of data stored in a memory. Consequently, the data might fail, leading to mistakes in the use of these data. One way of solving these problems is the use of error correction codes. An error correction code is, in essence, an organized way to add something extra to every information that you want to store, allowing, the recovery of the same information, detecting and correcting any errors found. Most error correction codes in use are designed to correct random errors, that is, errors that occur independently of the location of other errors. However, in many situations, errors can occur in bursts. Generally, random error correction codes are not efficient for correction of errors in burst, and the reciprocal is also true. From the various methods proposed in the literature for rectifying these two types of errors, the most effective is interleaving. The interleaving is a method that can be implemented both in hardware and in software. This method is mainly made up of a reordering of the bits and runs earlier in the storage memory (interleaver) and in reading, the bits are reordered again, that is, they are placed back into its original position (deinterleaver). This causes an increase in the rate of detection and correction of these errors, because if there is a concentrated interference (burst errors) in a memory, for example, during storage, in the operation of reading, to getting the deinterleaving, errors are exposed in a distributed manner, appearing as random errors to the decoder. This dissertation presents a proposal that combines the use of Error Detection And Correction Codes widely referenced in literature (Hamming, Extended Hamming, Reed-Muller and Matrix) associated with the technique of interleaving applied to hardware, aiming to increase the capacity of detection and correction of burst errors (Concentrated errors). The implementation of bit-flip testing failures, applied to the error correction techniques, showed that association these techniques have been effective also for burst errors.en_US
dc.description.abstractO constante avanço no processo de fabricação de circuitos integrados tem reduzido drasticamente a geometria dos transistores e os níveis das tensões de alimentação. Em circuitos de alta densidade operando a baixa tensão, as células de memória são capazes de armazenar informação com menos capacitância, o que significa que menos carga ou corrente é necessária para armazenar os mesmos dados. Durante o período de armazenamento, os dados envolvidos estão suscetíveis a sofrerem influência de meio, tais como interferências eletromagnéticas, radiações ou até mesmo falhas do próprio hardware envolvido. A falha é caracterizada como uma inversão de um ou mais bits de um dado armazenado na memória. Conseqüentemente, os dados poderão apresentar falhas, que provocarão erros e comprometerão a utilização destes dados. Uma forma de resolução destes problemas é a utilização de Códigos Corretores de Erros. Um Código Corretor de Erros é, em essência, um modo organizado de acrescentar algum dado adicional a cada informação que se queira armazenar e que permita, ao recuperarmos a mesma, detectar e corrigir os erros encontrados. A maioria dos Códigos Corretores de Erro em uso são desenvolvidos para corrigirem erros aleatórios, isto é, erros que ocorrem de maneira independente da localização de outros erros. Contudo, em muitas situações, os erros podem aparecer em rajadas. De uma maneira geral, Códigos Corretores de Erros aleatórios não se constituem na forma mais adequada e eficiente para correção de erros em rajadas, e a recíproca também é verdadeira. Dos vários métodos propostos pela literatura, para corrigirmos simultaneamente estes dois tipos de erros, o mais efetivo é o Embaralhamento. O Embaralhador é um algoritmo, um método que pode ser implementado tanto em hardware quanto em software. É essencialmente constituído por um reordenamento dos bits e é executado anteriormente ao armazenamento em memória (Embaralhador) e na leitura, os bits são novamente reordenados, ou seja, são colocados novamente em sua posição original (Desembaralhador). Isto provoca um aumento na taxa de detecção e correção destes erros, uma vez que se houver uma interferência concentrada (rajada de erros) em uma memória, por exemplo, durante o armazenamento, na operação de leitura, ao se fazer o desembaralhamento, os erros ficam expostos de forma distribuída, aparecendo como erros aleatórios ao decodificador. Esta dissertação apresenta uma proposta que combina a utilização de Códigos de Detecção e Correção de erros amplamente referenciados na literatura (Hamming, Hamming Estendido, Reed-Muller e Matrix) associados à técnica de Embaralhamento aplicada a Hardware, com o objetivo de aumentar a capacidade de detecção e correção de erros em rajada (erros concentrados). A execução dos testes de injeção de falhas do tipo bit-flip, aplicadas às técnicas corretoras de erros utilizadas nesta dissertação, mostraram que com a associação da técnica de Embaralhamento as mesmas passaram a ser eficientes também para erros em rajadas.pt_BR
dc.language.isoPortuguêspt_BR
dc.publisherPontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.subjectENGENHARIA ELÉTRICApt_BR
dc.subjectCIRCUITOS INTEGRADOSpt_BR
dc.subjectCIRCUITOS ELETRÔNICOSpt_BR
dc.subjectTOLERÂNCIA A FALHAS (INFORMÁTICA)pt_BR
dc.subjectHARDWAREpt_BR
dc.subjectSOFTWAREpt_BR
dc.titleNúcleos IP corretores de erros para proteção de memória em SoCpt_BR
dc.typemasterThesispt_BR
dc.degree.grantorPontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentFaculdade de Engenhariapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapt_BR
dc.degree.levelMestradopt_BR
dc.degree.date2008pt_BR
dc.publisher.placePorto Alegrept_BR
Aparece en las colecciones:Dissertação e Tese

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