1. Repositório PUCRS
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  3. Artigo de Periódico
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/20074
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorBANDEIRA, VITOR-
dc.contributor.authorSAMPFORD, JACK-
dc.contributor.authorRafael Fraga Garibotti-
dc.contributor.authorTRINDADE, MATHEUS GARAY-
dc.contributor.authorBASTOS, RODRIGO POSSAMAI-
dc.contributor.authorREIS, RICARDO-
dc.contributor.authorOST, LUCIANO-
dc.date.accessioned2021-12-07T12:06:36Z-
dc.date.available2021-12-07T12:06:36Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.issn0026-2714-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10923/20074-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartofMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleImpact of radiation-induced soft error on embedded cryptography algorithms-
dc.typeArticle-
dc.date.updated2021-12-07T12:06:35Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1016/j.microrel.2021.114349-
dc.jtitleMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.volume99-
dc.spage114349-
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