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dc.contributor.authorRicardo Augusto Zanotto Razera-
dc.contributor.authorAdriano Moehlecke-
dc.contributor.authorIzete Zanesco-
dc.date.accessioned2022-03-30T13:08:38Z-
dc.date.available2022-03-30T13:08:38Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.issn2156-3403-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10923/21027-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartofIEEE Journal of Photovoltaics-
dc.rightsopenAccess-
dc.subjectTempo de vida dos portadores de carga minoritários-
dc.subjectDecaimento da fotocondutividade-
dc.subjectLâminas de silício-
dc.subjectTempo de imersão em HF-
dc.titleMinority Carrier Lifetime Estimation by Photoconductance Decay for Silicon Wafers Immersed in HF-
dc.typeArticle-
dc.date.updated2022-03-30T13:08:37Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1109/JPHOTOV.2017.2706420-
dc.jtitleIEEE Journal of Photovoltaics-
dc.volume7-
dc.issue4-
dc.spage1004-
dc.epage1008-
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