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Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/12416
Tipo: conferenceObject
Título: A INFLUÊNCIA DO TELÚRIO NAS PROPRIEDADES ELÉTRICAS E ÓPTICAS DOS COMPOSTOS SEMICONDUTORES Ga1-xInxSb CRESCIDOS PELO MÉTODO BRIDGMAN VERTICAL
Autor(es): Cândida Klein
Berenice Anina Dedavid
In: 22º CBECiMat - Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais 06 a 10 de Novembro de 2016, Natal, RN, Brasil, 2016, Brasil.
Data de Publicação: 2016
Palavras-chave: microanálise por EDS
segregation
Bridgman method
III ? V semiconductor
FTIR
URI: http://hdl.handle.net/10923/12416
ISBN: 9788593068027
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