1. Repositório PUCRS
  2. PUBLICAÇÕES CIENTÍFICAS
  3. Apresentação em Evento
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/13443
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorMOREIRA, MATHEUS T.-
dc.contributor.authorOLIVEIRA, BRUNO S.-
dc.contributor.authorFernando Gehm Moraes-
dc.contributor.authorCALAZANS, NEY L. V.-
dc.date.accessioned2018-12-11T14:01:07Z-
dc.date.available2018-12-11T14:01:07Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.isbn9781479915859-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10923/13443-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartof2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2013, Estados Unidos.-
dc.rightsopenAccess-
dc.subjectReliability-
dc.subjectCharge sharing-
dc.titleCharge sharing aware NCL gates design-
dc.typeconferenceObject-
dc.date.updated2018-12-11T14:01:06Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1109/dft.2013.6653608-
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