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Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/15160
Tipo: conferenceObject
Título: Processor core profiling for SEU effect analysis
Autor(es): TRAVESSINI, RODRIGO
VILLA, PAULO R. C.
Fabian Luis Vargas
BEZERRA, EDUARDO AUGUSTO
In: 2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS), 2018, Estados Unidos.
Data de Publicação: 2018
URI: http://hdl.handle.net/10923/15160
DOI: DOI:10.1109/latw.2018.8347235
ISBN: 9781538614723
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