1. Repositório PUCRS
  2. PUBLICAÇÕES CIENTÍFICAS
  3. Artigo de Periódico
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/21027
Tipo: Article
Título: Minority Carrier Lifetime Estimation by Photoconductance Decay for Silicon Wafers Immersed in HF
Autor(es): Ricardo Augusto Zanotto Razera
Adriano Moehlecke
Izete Zanesco
En: IEEE Journal of Photovoltaics
Fecha de Publicación: 2017
Volumen: 7
Número: 4
Primera página: 1004
Última página: 1008
Palabras clave: Tempo de vida dos portadores de carga minoritários
Decaimento da fotocondutividade
Lâminas de silício
Tempo de imersão em HF
URI: https://hdl.handle.net/10923/21027
DOI: DOI:10.1109/JPHOTOV.2017.2706420
ISSN: 2156-3403
Aparece en las colecciones:Artigo de Periódico

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción TamañoFormato 
Minority_Carrier_Lifetime_Estimation_by_Photoconductance_Decay_for_Silicon_Wafers_Immersed_in_HF.pdf246,38 kBAdobe PDFAbrir
Ver
Mostrar el registro completo del ítem Ver estatísticas Busque otras versiones de este texto através de SFX


Todos los ítems en el Repositorio de la PUCRS están protegidos por derechos de autor, con todos los derechos reservados, y están bajo una licencia de Creative Commons Reconocimiento-NoComercial 4.0 Internacional. Sepa más.