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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/24963
Tipo: Article
Título: TiO2 Antireflection Coating Deposited by Electro-Beam Evaporation: Thin Film Thickness Effect on Weighted Reflectance and Surface Passivation of Silicon Solar Cells
Autor(es): MODEL, JOSÉ CRISTIANO MENGUE
MOEHLECKE, ADRIANO
Izete Zanesco
LY, MOUSSA
MARCONDES, TATIANA LISBOA
En: MATERIALS RESEARCH
Fecha de Publicación: 2022
Volumen: 25
Primera página: e20220245
Palabras clave: Células Solares
Passivação
Filme Antirreflexo de TiO2
Dióxido de titânio
URI: https://hdl.handle.net/10923/24963
DOI: DOI:10.1590/1980-5373-mr-2022-0245
ISSN: 1980-5373
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