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Tipo: article
Título: Análise em mev de áreas de sujidade e de desgaste em limas de níquel titânio em relação ao seu número de uso
Sem evaluation of remaining debris and wear of nickel-titanium files comparing to the number of use
Autor(es): Barletta, Fernando Branco
Oliveira, Elias Pandonor Motcy de
Vier-Pelisser, Fabiana Vieira
Editor: Dental Tribune International
Fecha de Publicación: 2006
Volumen: 6
Número: 25
Primera página: 150
Última página: 157
Palabras clave: LIMAS DE NÍQUEL-TITÂNIO
ÁREAS DE DESGASTE
LIMPEZA
MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
ODONTOLOGIA
MATERIAIS DENTÁRIOS
RESISTÊNCIA DOS MATERIAIS (ODONTOLOGIA)
Resumen: O objetivo deste estudo foi verificar, em microscopia eletrônica de varredura (MEV), áreas de defeitos de fabricação na ponta de limas de Ni Ti (Profile .04/Maillefer) sem uso, assim como a presença de áreas de sujidade e de desgaste, em função do número de uso desse instrumento. Para tanto, foram selecionadas 6 limas de Ni Ti n.º 15 a 40, que foram escovadas em água corrente, empregando-se sabão neutro na forma líquida. A ponta desses instrumentos foram então analisadas em MEV. Após novo processamento de limpeza e esterilização, as limas foram utilizadas para o preparo químico mecânico (PQM) de canais mésio e disto-vestibulares de pacientes e novamente analisadas em MEV. Esta manobra foi repetida até o 5º uso do instrumento. Não foram observadas áreas de defeitos de fabricação nas limas analisadas. Areas de sujidade nas limas foram observadas em 75% das eletromicrografias analisadas, evidenciando o fato de que o processo de limpeza utilizado não foi completamente eficaz. Das 6 limas estudadas, 3 apresentaram áreas de desgaste: limas números 35 e 40, depois de terem sido usadas duas vezes, e a lima número 40, depois do 3º uso. O processo de limpeza com água, escova e sabão não foi suficiente para a completa limpeza das limas endodônticas. As limas de Ni Ti do sistema Profile .04 sofreram desgaste, sendo este mais expressivo conforme o aumento do diâmetro do instrumento e do número de uso.
The aim of this study was to verify areas of manufacturing faults using SEM at the tip of the NiTi files (Profile.04 Maillefer) before its use, and the presence of debris and wear according to the use of these instruments. Thus, six NiTi files were selected, number 15 to 40, and brushed under running water with neutral liquid soap. The tip of these instruments was then analyzed using SEM. After further cleaning and sterilyzation, the files were employed for chemical and mechanical preparation of the mesio and disto bucal root canals on patients. After each preparation, the files were re- evaluated using SEM. This procedure was repeated up to the fifth use of the instruments. There were no manufacturing faults observed on the analyzed files. Areas with debris were found in 75% of the samples, indicating that the cleaning method was not totally effective. Among the six files evaluated, three samples showed areas of wear. Files number 35 and 40, after being used twice, and file number 30 after being used three times. The NiTi files from the Profile .04 system showed more significant areas of wear as the diameter of the instrument increased and the number of times used.
URI: http://hdl.handle.net/10923/883
ISSN: 1677-6437
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