1. Repositório PUCRS
  2. PUBLICAÇÕES CIENTÍFICAS
  3. Artigo de Periódico
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/20074
Registro completo de metadatos
Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorBANDEIRA, VITOR-
dc.contributor.authorSAMPFORD, JACK-
dc.contributor.authorRafael Fraga Garibotti-
dc.contributor.authorTRINDADE, MATHEUS GARAY-
dc.contributor.authorBASTOS, RODRIGO POSSAMAI-
dc.contributor.authorREIS, RICARDO-
dc.contributor.authorOST, LUCIANO-
dc.date.accessioned2021-12-07T12:06:36Z-
dc.date.available2021-12-07T12:06:36Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.issn0026-2714-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10923/20074-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartofMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleImpact of radiation-induced soft error on embedded cryptography algorithms-
dc.typeArticle-
dc.date.updated2021-12-07T12:06:35Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1016/j.microrel.2021.114349-
dc.jtitleMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.volume99-
dc.spage114349-
Aparece en las colecciones:Artigo de Periódico

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción TamañoFormato 
Impact_of_radiationinduced_soft_error_on_embedded_cryptography_algorithms.pdf2,59 MBAdobe PDFAbrir
Ver
Mostrar el registro sencillo del ítem Ver estatísticas Busque otras versiones de este texto através de SFX


Todos los ítems en el Repositorio de la PUCRS están protegidos por derechos de autor, con todos los derechos reservados, y están bajo una licencia de Creative Commons Reconocimiento-NoComercial 4.0 Internacional. Sepa más.