Minority Carrier Lifetime Estimation by Photoconductance Decay for Silicon Wafers Immersed in HF

Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/21027

Tipo:	Article
Título:	Minority Carrier Lifetime Estimation by Photoconductance Decay for Silicon Wafers Immersed in HF
Autor(es):	Ricardo Augusto Zanotto Razera Adriano Moehlecke Izete Zanesco
In:	IEEE Journal of Photovoltaics
Data de Publicação:	2017
Volume:	7
Número:	4
Página Inicial:	1004
Página Final:	1008
Palavras-chave:	Tempo de vida dos portadores de carga minoritários Decaimento da fotocondutividade Lâminas de silício Tempo de imersão em HF
URI:	https://hdl.handle.net/10923/21027
DOI:	DOI:10.1109/JPHOTOV.2017.2706420
ISSN:	2156-3403
Aparece nas Coleções:	Artigo de Periódico

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