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  3. Artigo de Periódico
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/23362
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorSILVA, FELIPE-
dc.contributor.authorSILVEIRA, JARDEL-
dc.contributor.authorSILVEIRA, JARBAS-
dc.contributor.authorCésar Augusto Missio Marcon-
dc.contributor.authorVARGAS, FABIAN-
dc.contributor.authorLIMA, OTÁVIO-
dc.date.accessioned2022-11-11T19:11:30Z-
dc.date.available2022-11-11T19:11:30Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.issn0923-8174-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10923/23362-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartofJOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleAn Extensible Code for Correcting Multiple Cell Upset in Memory Arrays-
dc.typeArticle-
dc.date.updated2022-11-11T19:11:28Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1007/s10836-018-5738-5-
dc.jtitleJOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS-
dc.volume34-
dc.issue4-
dc.spage417-
dc.epage433-
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