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  3. Artigo de Periódico
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/24030
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorDavid Freitas-
dc.contributor.authorCésar Augusto Missio Marcon-
dc.contributor.authorJarbas Silveira-
dc.contributor.authorLirida Alves de Barros Naviner-
dc.contributor.authorJoão Mota-
dc.date.accessioned2023-04-04T18:16:16Z-
dc.date.available2023-04-04T18:16:16Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.issn0026-2714-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10923/24030-
dc.language.isopt_BR-
dc.relation.ispartofMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleA Survey on Two-Dimensional Error Correction Codes Applied to Fault-Tolerant Systems-
dc.typeArticle-
dc.date.updated2023-04-04T18:16:15Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1016/j.microrel.2022.114826-
dc.jtitleMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.volume139-
dc.issue11482-
dc.spage1-
dc.epage16-
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