Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/24837
Registro Completo de Metadados
Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorSILVA, ALZEMIRO-
dc.contributor.authorWEBER, IACANA-
dc.contributor.authorMARTINS, ANDRE LUIS DEL MESTRE-
dc.contributor.authorFernando Gehm Moraes-
dc.date.accessioned2023-04-19T20:28:41Z-
dc.date.available2023-04-19T20:28:41Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.isbn9781665484855-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10923/24837-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartof2022 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2022, Estados Unidos.-
dc.rightsopenAccess-
dc.subjectReliability-
dc.subjectMany-core systems-
dc.subjectDynamic Thermal Management-
dc.subjectLifetime-
dc.titleReliability Assessment of Many-Core Dynamic Thermal Management-
dc.typeconferenceObject-
dc.date.updated2023-04-19T20:28:39Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1109/ISCAS48785.2022.9937286-
Aparece nas Coleções:Apresentação em Evento

Arquivos neste item:
Arquivo Descrição TamanhoFormato 
Reliability_Assessment_of_ManyCore_Dynamic_Thermal_Management.pdf351,71 kBAdobe PDFAbrir
Exibir


Todos os itens no Repositório da PUCRS estão protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, e estão licenciados com uma Licença Creative Commons - Atribuição-NãoComercial 4.0 Internacional. Saiba mais.