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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/12270
Tipo: conferenceObject
Título: Evaluating a Hardware-Based Approach for Detecting Resistive-Open Defects in SRAMs
Autor(es): LAVRATTI, F.
Letícia Maria Bolzani Pöhls
Fabian Vargas
Andrea Calimera
Enrico Macii
En: 2015 28th International Conference on VLSI Design, 2015, Brasil.
Fecha de Publicación: 2015
URI: http://hdl.handle.net/10923/12270
DOI: DOI:10.1109/VLSID.2015.74
ISBN: 9781479966585
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