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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/12424
Tipo: Article
Título: Study of In distribution on GaInSb:Al crystals by ion beam techniques
Autor(es): STREICHER, M.
CORREGIDOR, V.
CATARINO, N.
ALVES, L.C.
N. Franco
FONSECA, M.
MARTINS, L.
E. Alves
COSTA, E.M.
Berenice Anina Dedavid
En: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions with Materials and Atoms (Print)
Fecha de Publicación: 2016
Volumen: 371
Primera página: 278
Última página: 282
Palabras clave: PIXE
PIGE
Aluminium
Ternary alloy of Ga1−xInxSb
composition
URI: http://hdl.handle.net/10923/12424
DOI: DOI:10.1016/j.nimb.2015.09.032
ISSN: 0168-583X
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