1. Repositório PUCRS
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  3. Apresentação em Evento
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/13176
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorAlexandre de Morais Amory-
dc.contributor.authorMORENO, EDSON-
dc.contributor.authorMORAES, FERNANDO-
dc.contributor.authorLUBASZEWSKI, MARCELO S.-
dc.date.accessioned2018-11-13T11:09:06Z-
dc.date.available2018-11-13T11:09:06Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10923/13176-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartofProceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2013, Brasil.-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleDetermining the test sources/sinks for NoC TAMs-
dc.typeconferenceObject-
dc.date.updated2018-11-13T11:09:06Z-
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