1. Repositório PUCRS
  2. PUBLICAÇÕES CIENTÍFICAS
  3. Apresentação em Evento
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/15160
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dc.contributor.authorTRAVESSINI, RODRIGO-
dc.contributor.authorVILLA, PAULO R. C.-
dc.contributor.authorFabian Luis Vargas-
dc.contributor.authorBEZERRA, EDUARDO AUGUSTO-
dc.date.accessioned2019-07-25T12:34:55Z-
dc.date.available2019-07-25T12:34:55Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.isbn9781538614723-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10923/15160-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartof2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS), 2018, Estados Unidos.-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleProcessor core profiling for SEU effect analysis-
dc.typeconferenceObject-
dc.date.updated2019-07-25T12:34:55Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1109/latw.2018.8347235-
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