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  3. Artigo de Periódico
Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/18120
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.authorSILVA, FELIPE-
dc.contributor.authorFREITAS, WALTER-
dc.contributor.authorSILVEIRA, JARBAS-
dc.contributor.authorCésar Augusto Missio Marcon-
dc.contributor.authorVARGAS, FABIAN-
dc.date.accessioned2021-08-31T11:50:36Z-
dc.date.available2021-08-31T11:50:36Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.issn0026-2714-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10923/18120-
dc.language.isoen-
dc.relation.ispartofMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.rightsopenAccess-
dc.titleExtended Matrix Region Selection Code: An ECC for adjacent Multiple Cell Upset in memory arrays-
dc.typeArticle-
dc.date.updated2021-08-31T11:50:34Z-
dc.identifier.doiDOI:10.1016/j.microrel.2020.113582-
dc.jtitleMICROELECTRONICS RELIABILITY-
dc.volume106-
dc.spage113582-
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