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Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/23439
Tipo: conferenceObject
Título: Applying Memory Test to Embedded Systems
Autor(es): César Augusto Missio Marcon
Alexandre Amory
Marcelo Lubaszewski
Altamiro Amadeu Susin
Ney Laert Vilar Calazans
Fernando Gehm Moraes
Fabiano Passuelo Hessel
In: 5th IEEE Latin-American Test Workshop, 2004, Colômbia.
Data de Publicação: 2004
URI: https://hdl.handle.net/10923/23439
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