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Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/10923/22267
Type: conferenceObject
Title: A INFLUÊNCIA DO TELÚRIO NAS PROPRIEDADES ELÉTRICAS E ÓPTICAS DOS COMPOSTOS SEMICONDUTORES Ga1-xInxSb CRESCIDOS PELO MÉTODO BRIDGMAN VERTICAL
Author(s): Cândida Klein
Berenice Anina Dedavid
In: 22º CBECiMat - Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais 06 a 10 de Novembro de 2016, Natal, RN, Brasil, 2016, Brasil.
Issue Date: 2016
Keywords: microanálise por EDS
segregation
Bridgman method
III ? V semiconductor
FTIR
URI: https://hdl.handle.net/10923/22267
ISBN: 9788593068027
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