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Tipo: conferenceObject
Título: Analysis of FPGA SEU sensitivity to combined effects of conducted EMI and TID
Autor(es): Juliano Benfica
GREEN, BRUNO
PORCHER, BRUNO C.
Letícia Maria Bolzani Pöhls
Fabian Vargas
MEDINA, NILBERTO H.
ADDED, NEMITALA
DE AGUIAR, VITOR A. P.
MACCHIONE, EDUARDO L. A.
AGUIRRE, FERNANDO
DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.
En: 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), 2016, Brasil.
Fecha de Publicación: 2016
URI: http://hdl.handle.net/10923/12271
DOI: DOI:10.1109/APEMC.2016.7522900
ISBN: 9781467394949
Aparece en las colecciones:Apresentação em Evento

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