Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/12271
Tipo: conferenceObject
Título: Analysis of FPGA SEU sensitivity to combined effects of conducted EMI and TID
Autor(es): Juliano Benfica
GREEN, BRUNO
PORCHER, BRUNO C.
Letícia Maria Bolzani Pöhls
Fabian Vargas
MEDINA, NILBERTO H.
ADDED, NEMITALA
DE AGUIAR, VITOR A. P.
MACCHIONE, EDUARDO L. A.
AGUIRRE, FERNANDO
DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.
In: 2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), 2016, Brasil.
Data de Publicação: 2016
URI: http://hdl.handle.net/10923/12271
DOI: DOI:10.1109/APEMC.2016.7522900
ISBN: 9781467394949
Aparece nas Coleções:Apresentação em Evento

Arquivos neste item:
Arquivo Descrição TamanhoFormato 
Analysis_of_FPGA_SEU_sensitivity_to_combined_effects_of_conducted_EMI_and_TID.pdf1,02 MBAdobe PDFAbrir
Exibir


Todos os itens no Repositório da PUCRS estão protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, e estão licenciados com uma Licença Creative Commons - Atribuição-NãoComercial 4.0 Internacional. Saiba mais.