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Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/10923/18146
Tipo: Article
Título: Combined ionizing radiation & electromagnetic interference test procedure to achieve reliable integrated circuits
Autor(es): Roger Goerl
Paulo Villa
Fabian Luis Vargas
César Augusto Missio Marcon
Nilberto H. Medina
Nemitala Added
Marcilei da Silva
En: MICROELECTRONICS RELIABILITY
Fecha de Publicación: 2019
Primera página: 113341
Última página: 113347
URI: https://hdl.handle.net/10923/18146
DOI: DOI:10.1016/j.microrel.2019.06.033
ISSN: 0026-2714
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