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Utilize este identificador para citar ou criar um atalho para este documento: https://hdl.handle.net/10923/12193
Tipo: conferenceObject
Título: Analyzing the Impact of SEUs on SRAMs with Resistive-Bridge Defects
Autor(es): MEDEIROS, G. CARDOSO
POEHLS, L. BOLZANI
Fabian Luis Vargas
In: 2016 29th International Conference on VLSI Design and 2016 15th International Conference on Embedded Systems (VLSID), Índia.
Data de Publicação: 2016
URI: http://hdl.handle.net/10923/12193
DOI: DOI:10.1109/vlsid.2016.146
ISBN: 9781467387002
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